这款手持式测厚仪可有效地适用于几乎各种超声测厚应用，而且与几乎各种双晶探头和单晶探头完全兼容。38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行壁厚测量。

38DL PLUS测厚仪的标准配置带有很多性能强大又易于使用的测量功能，以及许多某些特定应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以在非常潮湿或暴土扬沙的严酷环境中正常操作。其彩色透反VGA显示屏无论在明亮的阳光下还是在无光的黑暗中都具有非常好的可视性。测厚仪的键区非常简洁，且符合人体工程学的要求，操作人员使用单手（左手或右手）操控键区，就可以轻松访问仪器的所有功能。

主要特性

• 可与双晶探头和单晶探头兼容

• 宽泛的厚度测量范围：0.08毫米到635毫米，具体可测厚度根据材料和所选探头而定

• 使用双晶探头进行腐蚀测厚操作

• 穿透涂层（THRU-COAT）和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料

• 内部氧化层/沉积物软件选项

• 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米

• 在使用频率范围为2.25 MHz ～ 30 MHz的单晶探头时，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量

• 多层软件选项可同时对多层材料的各层进行厚度测量，多可同时测量4层

• 高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料

• 厚度、声速和渡越时间的测量

• 差分模式和缩减率模式

• 时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可回顾的读数

• 带有数字式滤波器的奥林巴斯高动态增益技术

• 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能

• 设计符合EN15317标准

简便操作的设计理念

• 简洁的键区，只用单手（左手或右手）即可操控仪器

• 操作简便的用户界面，可直接访问所有功能

• 内置和外置microSD存储卡的存储方式

• USB和RS-232通讯端口

• 可存储475000个厚度读数或20000个波形的字母数字式数据记录器

• 可连接计算机或显示器的VGA输出

• 默认/自定义的双晶探头设置

• 默认或自定义的单晶探头设置

• 密码保护功能可以锁住仪器的功能